1、掠入射角:Omega轴自动旋转范围不低于-3°~ +5°,精度不低于0.002°
2、可自动扫描样品分析不同位置的结构变化,分辨率 ≤200 μm
3、变温温度范围:-150~350℃,精度: 0.1℃,可进行GISAXS/GIWAXS变温测试(需搭配掠入射台子)
在透射或掠入射(GI-)模式下进行小角/广角X射线散射(SAXS/WAXS)测试以及超小角(USAXS)测试,获取各类样品的颗粒大小分布、形状和形态学、周期性结构、孔隙率与多孔结构、相分离现象、结晶度、界面性质、薄膜厚度及分层全面的结构信息。掠入射角:Omega 轴自动旋转范围不低于-3°~ +5°,精度不低于 0.002°,可自动扫描样品分析不同位置的结构变化,分辨率 ≤ 200 μm,变温温度范围: -150~350 ℃,精度:0.1℃,可进行 GISAXS/GIWAXS变温测试(需搭配掠入射台子)